桂力敏：(公元1939～今)，女；上海人。著名微电子专家，教育家。

桂力敏：(公元1939～今)，女；上海人。著名微电子专家，教育家。
1954年毕业于北京师范大学物理系，1954年8月至今在华东师范大学物理系、电子科学技术系任助教、讲师、副教授、教授。历任物理系、电子科学技术系常务副主任，半导体器件可靠性研究室主任等职。并较长时间兼任学校妇女委员会主任及部门工会主席等职。还担任“中国电子学会可靠性分会”三届、四届委员及“可靠性物理学组”组长。
近二十年对微电子器件可靠性及工艺检测技术进行过系统和深入的研究。主持过国家、部委和上海市以及地方企业重大科技攻关项目如《集成电路工艺测试图形研究及数据处理》、《VLSI内建可靠性研究—输入参量的控制》等十五项，其中通过成果鉴定项目十三项、有五个项目成果公布在国家科委的《科学技术研究成果公报》中。
科研成果中的《微电子测试图形及其智能测试装置》、《方形阵列数字式四探针测试仪》分别获上海市科学技术进步二等奖和上海市科委重大科技成果三等奖。《微电子测试结构、图形及其测试系统》获国家教委优秀科技成果项目。
她在VLSI工艺检测技术中有创新，并在国内取得领先地位，积极为企业培养人才，创利数十万。
结合科研所取得的成果合著《微电子测试结构》一书，并发表论文如《用于双极型工艺评估的微电子测试图形研究》等五十余篇，享受国务院颁发的政府特殊津贴。
本书按：
VLSI：超大规模集成电路的英文缩写。